產(chǎn)品概述

　　全自動探針臺是一款高精度的自動化測試設(shè)備，專門為微電子和半導(dǎo)體領(lǐng)域設(shè)計(jì)。該設(shè)備采用先進(jìn)的自動化控制系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)高精度的探針定位和樣品操作，

廣泛應(yīng)用于集成電路、芯片測試以及材料分析等領(lǐng)域。

　　通過配備高性能CCD相機(jī)、自動化控制軟件和智能操作界面，全自動探針臺提供了精準(zhǔn)、高效的測試解決方案，

滿足了現(xiàn)代科技實(shí)驗(yàn)和工業(yè)生產(chǎn)的需求。憑借其優(yōu)異的穩(wěn)定性和靈活性，成為科研和生產(chǎn)中的重要工具。

　　技術(shù)參數(shù)：

　　1、光學(xué)平臺

　　尺寸：60cm × 60cm，適用于多種測試需求配備高清工業(yè)級CCD，支持5X、10X、20X、50X長焦倍率

　　2、顯微鏡系統(tǒng)

　　配備三軸高精度CCD(支持更換CCD，適用于多種光學(xué)配置)

　　顯微鏡系統(tǒng)：標(biāo)準(zhǔn)配置為合并環(huán)形照明及背光照明系統(tǒng)，提供清晰的成像效果

　　4、探針臺功能

　　升降平臺：電動升降，行程可調(diào)(0.02–4mm/s)

　　XY軸：電動調(diào)節(jié)，控制范圍為50mm × 50mm，支持360°旋轉(zhuǎn)

　　Z軸：電動調(diào)節(jié)，較大行程為200mm

　　5、工作平臺

　　較大樣品尺寸：65mm × 65mm，適應(yīng)大多數(shù)材料和樣品類型

　　較大樣品重量：4kg

　　6、控制系統(tǒng)

　　支持XBOX控制，軟件控制，簡化操作流程

　　電氣控制：支持自動控制與手動模式切換，適應(yīng)不同的實(shí)驗(yàn)需求

　　7、顯示與操作界面

　　配備高清顯示屏：780mm × 600mm，支持實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)監(jiān)控與顯示支持多種軟件功能，增強(qiáng)測試的準(zhǔn)確性和靈活性

　　8、環(huán)境要求

　　溫度范圍：0°C至40°C

　　濕度范圍：≤80% RH